摘要清单
我的稿件531
Stealthy Trojan Detection Based on Feature Analysis of Circuit Structure终稿
Feng Jianhua*, Tan Jiatong, Lv Yinxuan
全体主题 > Device and Circuit Reliability
520
The origin of on-state stress degradation of T-gate AlGaN/GaN HEMTs: experimental and first-principles insights终稿
WANG RONG*, Xiaodong Tong, Jianxing Xu, Shiyong Zhang, Penghui Zheng, Feng-Xiang Chen
全体主题 > Device and Circuit Reliability
436
Research and Application of On-line Monitoring Device for Dry-type Air-core Reactor终稿
Yongcan Zhu, Zhipeng Xue*, Yan Zhou, Jie Hu, Junjun Liu, Zhiwen Li
全体主题 > Device and Circuit Reliability
430
Study on Hybrid Series and Parallel Dynamic Voltage Restorer全文被拒
ding li, Yili liu*, yuwei chen
全体主题 > Device and Circuit Reliability
重要日期
-
会议日期
06月12日
2019
至06月14日
2019
-
06月12日 2019
初稿截稿日期
-
06月14日 2019
注册截止日期
承办单位
Xi'an University of Technology
联系方式
- Dr. Zhaonian Yang
- ed******@126.com
- 177********
历届会议
-
2025年06月06日 中国 Yinchuan
2025 IEEE International Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits -
2017年10月18日 台湾-中国
2017年电子器件和固态电路国际会议 -
2016年08月03日 香港-中国 Hongkong，China
2016年IEEE电子器件和固态电路国际会议 -
2015年06月01日 新加坡
2015年IEEE电子设备和固态电路国际会议
