活动简介

The scope of the conference is electronic-based circuits and system testing, including VLSI Test, VLSI Reliability, Yield, diagnosis, DFX, Verification, etc.

征稿信息

重要日期

2018-12-12
摘要截稿日期
2018-12-17
初稿截稿日期
2019-02-20
初稿录用日期
2019-03-20
终稿截稿日期
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重要日期

  • 会议日期

    05月27日

    2019

    至

    05月31日

    2019

  • 12月12日 2018

    摘要截稿日期

  • 12月17日 2018

    初稿截稿日期

  • 02月20日 2019

    初稿录用通知日期

  • 03月20日 2019

    终稿截稿日期

  • 05月31日 2019

    注册截止日期

承办单位
KIT - Karlsruhe Institute of Technology
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