活动简介

The IEEE North Atlantic Test Workshop provides a forum for discussions on the latest issues relating to high quality, economical, and efficient test methodologies and designs. In addition to traditional topics, the 26th NATW will feature a general theme of "Synthesis and Reliability." 

征稿信息

重要日期

2017-03-01
摘要截稿日期
2017-03-01
初稿截稿日期
2017-04-10
初稿录用日期
2017-04-24
终稿截稿日期

征稿范围

  • Analog, Mixed Signal and RF Testing 

  • Built-In Self-Test (BIST) 

  • Board Level Testing 

  • Delay and Performance Testing 

  • Design Verification/Validation 

  • Diagnosis and Debug 

  • Fault Modeling/Simulation 

  • FPGA and Embedded Core Testing 

  • IDDQ Testing 

  • DFM, Defect Analysis and Defect-Based Testing 

  • Memory and MEMS Testing 

  • Nanotechnology Testing 

  • Online Testing 

  • System-on-Chip (SoC) Test and Debug

  • Test Quality/System Reliability.

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重要日期
  • 会议日期

    05月08日

    2017

    05月10日

    2017

  • 03月01日 2017

    摘要截稿日期

  • 03月01日 2017

    初稿截稿日期

  • 04月10日 2017

    初稿录用通知日期

  • 04月24日 2017

    终稿截稿日期

  • 05月10日 2017

    注册截止日期

主办单位
IEEE
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