活动简介
由中国科学院微电子研究所主办，中德科学中心支持，中国核学会辐射物理分会协办的2017年微纳电子器件可靠性与辐射效应国际研讨会（IWRRE-MNED 2017）将于2017年5月22-24日在中国成都举行，由中国科学院微电子所刘明院士担任大会主席。本次会议旨在为微纳电子器件可靠性与辐射效应领域的最新研究结果提供交流机会，主要涉及微纳电子器件可靠性设计、失效物理研究，器件辐射损伤效应和机理研究，充放电效应，抗辐照加固技术等。会议将包括口头报告、海报展示及圆桌会议等多种展示和交流形式。欢迎相关领域的科研和应用技术人员踊跃参加！
征稿信息
重要日期
2017-03-01
摘要截稿日期
征稿范围
本次会议征文范围包括（但不限于）：
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电子器件可靠性(新型器件、缺陷、物理机制和建模仿真等)
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可靠性设计 (材料级、工艺级、器件级、电路级、系统级)
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单粒子效应、总剂量效应、位移损伤效应 (物理机制和建模等）
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充放电效应和静电防护
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失效表征和分析
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抗辐射加固技术
全部留言
重要日期
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会议日期
05月22日
2017
至05月24日
2017
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03月01日 2017
摘要截稿日期
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05月24日 2017
注册截止日期
主办单位
中国核学会辐射物理分会
协办单位
中国核学会辐射物理分会
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