活动简介
第六届中国二次离子质谱会议将于2016年10月8-11日在中国科学院大连化学物理研究所（地址详见附件1）举行。会议将为我国二次离子质谱界的学术研讨、技术交流与合作提供平台，推动二次离子质谱的发展，促进二次离子质谱技术在各领域的应用。会议热诚邀请中国大陆、港澳台地区以及海外从事二次离子质谱相关工作的同仁相聚美丽海滨城市大连，展示最新的研究成果，共同推动我国二次离子质谱的发展。会议热诚欢迎国内外相关厂商参展。
征稿信息
重要日期
2016-09-15
摘要截稿日期
征稿范围
1.二次离子质谱仪器和理论；
2.地球科学中的元素与同位素分析；
3.核科学中的微区分析和同位素分析
4.材料的微区分析、表面分析和3D分析
5.半导体/微电子科学中的表面分析；
6.生命科学和临床医学中质谱原位分析、质谱成像和单细胞质谱分析；
7.环境科学中的微区和原位分析
8.微纳尺度样品的质谱分析
9.二次离子质谱的样品前处理方法和复杂样品分析
10.原子探针/质谱原位分析新技术
11.新型离子源（纳米/团簇）和后电离技术；
12.质谱成像数据分析、数据处理、数据融合和识别方法
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重要日期
-
会议日期
10月08日
2016
至10月11日
2016
-
09月15日 2016
摘要截稿日期
-
10月11日 2016
注册截止日期
主办单位
中国科学院大连化学物理研究所中国科学院分离分析重点实验室
承办单位
中国科学院大连化学物理研究所中国科学院分离分析重点实验室
联系方式
- 王爱博、谢园园
- si******@163.com
- 041*********
历届会议
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2018年10月09日 中国
第七届中国二次离子质谱会议
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