活动简介
The Asian Test Symposium (ATS) provides an open forum for researchers and industrial practitioners from all countries of the world to exchange innovative ideas on system, board, and device testing with design, manufacturing, and field consideration in mind.
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重要日期
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会议日期
10月14日
2023
至10月17日
2023
-
10月17日 2023
注册截止日期
主办单位
Chinese Academy of Sciences - Institute of Computing Technology
IEEE Computer Society
IEEE Council on Electronic Design Automation
IEEE Computer Society
IEEE Council on Electronic Design Automation
承办单位
Chinese Academy of Sciences - Institute of Computing Technology
IEEE Computer Society
IEEE Council on Electronic Design Automation
IEEE Computer Society
IEEE Council on Electronic Design Automation
历届会议
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2024年12月17日 印度 Ahmedabad
The 33rd IEEE Asian Test Symposium (ATS 2024) -
2022年11月21日 台湾-中国 Taichung City
2022 IEEE 31st Asian Test Symposium -
2018年10月15日 中国 Hefei
2018 IEEE 27th Asian Test Symposium -
2017年11月27日 中国 Taipei,China
2017 IEEE 26th Asian Test Symposium -
2016年11月21日 日本 Hiroshima,Japan
2016年第25届IEEE亚洲测试研讨会 -
2013年11月18日 台湾-中国
2013年第22届亚洲测试研讨会
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