海南富克电离层测高仪图像的扩展F现象短临预测
编号:3397
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更新:2024-04-13 14:15:18 浏览:749次
张贴报告
摘要
在电离层F层一定高度范围内,如果不是稳定的层状、存在一些精细结构时,对入射的电波造成了漫反射,在电离层监测设备测高仪扫频回波的图像(频高图,也即电离图ionogram)中,呈现的不是清晰的线状描迹,而是弥散的一片,就是扩展F现象。以往对扩展F发生率或者图形的预测,模型通常只寻求现象与一些先验知识(地方时、季节、太阳和地磁活动等)的简单相关性,而非从频高图中丰富的图像信息(特别是变化趋势)进行特征的预测。
我们基于科研人员经验人工判断海南富克站(19.5°N, 109.1°E)的超过50万张频高图,覆盖超过一个太阳周,建立了用于监督学习的短序列的样本库和图像对的大数据样本库,样本量大,包含的空间天气条件丰富。使用两种模型结构:①将ConvGRU网络和EDSR网络结合,②全局-局部鉴别器下的GAN架构。我们研发了两种基于海南频高图时间序列的机器学习短临预测方法,以过去8张频高图预测生成未来2张清晰的频高图。两种方法效果差不多,预测扩展F现象是否发生准确率高于90%,预测描迹线与真实描迹线的相关系数约0.8,在一定程度上能预测出不同类型扩展F发生时的图形特征,在应用中两种方法的结果可以印证给出参考。
稿件作者
王铮
中国科学院国家空间科学中心
蔡金慧
中国传媒大学
高鹏东
中国传媒大学
王国军
中国科学院国家空间科学中心
裘初
中国传媒大学
史建魁
中国科学院国家空间科学中心
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