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自然积污绝缘子表面的污秽分布及颗粒粒径分布特性

自然积污；绝缘子；污秽；盐密、灰密；粒径；高压电

绝缘子表面的污秽特性对绝缘子闪络的产生具有重要影响。通过在实验楼顶上搭建的自然积污实验观测平台，进行了相关实验研究，观察4组不同类型的绝缘子上下表面的盐密、灰密以及污秽颗粒粒径分布特性。每组为三片相同规格的绝缘子，将其头尾相连竖直悬挂在悬挂架上，第一组与第二组为XP-70瓷绝缘子，积污过程中对第二组绝缘子施加35kV直流电，加电方式为下伞裙钢脚为高压端，上伞裙铁帽为接地端，第三组与第四组分别为LXP-70玻璃绝缘子及XWP-70双伞型瓷绝缘子。每个绝缘子串的中部绝缘子为污秽取样绝缘子，每周对其进行表面污物取样以及电镜扫描实验，将得到的颗粒电镜图像进行二值化处理并统计颗粒粒径。自然积污28天后取下绝缘子，对样件进行盐密和灰密的测量。实验结果表明， XP-70瓷绝缘子通电后下表面的盐密及灰密较未通电时显著增加，且玻璃绝缘子上、下表面的盐密及灰密均高于瓷绝缘子；颗粒粒径分布方面，绝缘子的材质与外形对其颗粒粒径分布影响不显著，XP-70瓷绝缘子、LXP-70玻璃绝缘子以及XWP-70双伞型瓷绝缘子上下表面的粒径分布均满足，粒径小于2.5μm的颗粒占比约为40%，粒径小于10μm的颗粒占比约为90%。