Degradation Behavior of Metallized Film Capacitors: A Review
编号:250 访问权限:仅限参会人 更新:2022-08-29 15:48:56 浏览:145次 张贴报告

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摘要
Metallized film capacitors are widely used in power electronics due to their brilliant electrical properties. However, the more stringent operating conditions (e.g., temperature, humidity, current, voltage) brought about by the development of the energy industry may significantly impact capacitor reliability. This paper provides an elaborate description of the composition of metallized film capacitors. Then, the types of dielectric materials, metallization methods, and sprayed end forms are discussed in detail. In addition, various degradation modes are reviewed, including the degradation of electrode metallization with dielectric layers under high ambient temperature and high humidity conditions, the effect of over-voltage on reliability, and the aging of sprayed ends under pulsed current.
关键词
Degradation mechanism,Metallized film capacitor,Dielectric materials
报告人
Lei Pan
Chongqing University

稿件作者
Lei Pan Chongqing University
Feipeng Wang Chongqing University
Yushuang He Chongqing University
Guoqiang Du Chongqing University
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重要日期
  • 会议日期

    09月25日

    2022

    09月29日

    2022

  • 08月15日 2022

    提前注册日期

  • 09月10日 2022

    报告提交截止日期

  • 11月10日 2022

    注册截止日期

  • 11月30日 2022

    初稿截稿日期

  • 11月30日 2022

    终稿截稿日期

主办单位
IEEE DEIS
承办单位
Chongqing University
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