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The ANN Based Modeling Attack and Security Enhancement of the Double-layer PUF
编号：62 访问权限：仅限参会人 更新：2021-08-16 22:06:57 浏览：422次 口头报告

报告开始：2021年08月19日 20:20（Asia/Shanghai）

报告时间：20min

所在会场：[RS] Regular Paper Session [RS1] A1. When Machine Learning Meets Testing and Security

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摘要
Yongliang Chen received the B.Sc. degree in microelectronics from Harbin Institute of Technology, Harbin, China in 2019. He is now pursuing his M.Sc. degree in microelectronics from Peking University Shenzhen Graduate School. His research interest is the RRAM based PUF circuits.
 
关键词
RRAM;PUF;ANN attack;XORing;dimensional extension
报告人
Yongliang Chen
Peking University Shenzhen Graduate School

Yongliang Chen received the B.Sc. degree in microelectronics from Harbin Institute of Technology, Harbin, China in 2019. He is now pursuing his M.Sc. degree in microelectronics from Peking University Shenzhen Graduate School. His research interest is the RRAM based PUF circuits.

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重要日期

  • 会议日期

    08月18日

    2021

    至

    08月20日

    2021

  • 05月10日 2021

    初稿截稿日期

  • 08月16日 2021

    提前注册日期

  • 08月19日 2021

    报告提交截止日期

  • 08月20日 2021

    注册截止日期

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IEEE
Tongji University
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