报告开始:2021年08月20日 11:50(Asia/Shanghai)
报告时间:20min
所在会场:[RS] Regular Paper Session [RS3] A4 Circuit Design and Evaluation with Emerging Technology
Mr.Matsumoto is a expert engineer at ADVANTEST Corporation.
Specialty is developing application programs for measuring automotive semiconductor devices.
・ Measurement of piezoelectric MEMS by ATE
・ Measurement of minute current of 1pA or less by ATE
・ Measurement of minute capacitance of 1pF or less by ATE
・ Measurement of automotive semiconductor devices by ATE
(Many Pin Devices , Devices over 200 Pads on Wafer)
Previously, working on the development of ATE for automotive semiconductor measurement.
08月18日
2021
08月20日
2021
初稿截稿日期
提前注册日期
报告提交截止日期
注册截止日期
2022年08月24日 台湾-中国 Taipei
2022 IEEE International Test Conference in Asia2019年09月03日 日本 Tokyo
2019 IEEE International Test Conference in Asia2018年08月15日 中国
2018 IEEE International Test Conference in Asia2017年09月13日 台湾-中国 Taipei
2017 IEEE International Test Conference in Asia2014年11月10日 中国 杭州市
IEEE International Test Conference in Asia
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