摘要详情
1 / 2019-02-10 08:47:17
Verification Testing on the Use of Repeated Testing to Promote Test Quality and Reach Zero Product Defect
全文待审
重要日期
-
会议日期
11月09日
2019
至11月15日
2019
-
03月01日 2019
终稿截稿日期
-
03月08日 2019
初稿截稿日期
-
03月11日 2019
摘要截稿日期
-
06月07日 2019
初稿录用通知日期
-
11月15日 2019
注册截止日期
联系方式
- Li-C Wang
- li******@ece.usb.edu
历届会议
-
2020年11月01日 美国
2020 IEEE International Test Conference -
2018年10月30日 美国
2018 IEEE International Test Conference -
2017年10月31日 美国
2017年IEEE国际测试会议 -
2016年11月15日 美国 Fort Worth,USA
2016年IEEE测试国际会议 -
2015年10月06日 美国
2015年IEEE测试国际会议 -
2014年10月20日 美国
2014年IEEE测试国际会议 -
2013年09月06日 美国
2013年IEEE国际测试大会
